一种邮票孔模组的量产快速测试方法

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一种邮票孔模组的量产快速测试方法
申请号:CN202410776869
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118795310B
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种邮票孔模组的量产快速测试方法,本发明通过模组测试底板对邮票孔模组进行供电和测试,测试治具设置有分别电连接于模组测试电路的启动拨码与启动按钮,模组测试电路通过启动拨码与启动按钮的组合形式确定启动方式,通过改变启动拨码与启动按钮的组合形式快速切换邮票孔模组的启动方式,模组测试电路通过测试引脚或测试接口测试邮票孔模组的IO信号;本发明测试过程不需要焊接邮票孔模组,本发明通过治具的探针对邮票孔模组进行供电与连接信号,不影响邮票孔模组的最终交付的外观与电路。本发明对邮票孔模组的测试实现半自动化,测试治具的结构精简,操作简便,应用和部署在出货与客户验收环境,满足量产的测试使用。
技术关键词
邮票孔 快速测试方法 模组 启动按钮 电平 缓冲器 测试接口 供电电路 信号 监测电路 采样电阻 MCU芯片 主控芯片 自锁开关 直流电流 采样电路 驱动数码管 测试电路板