VCSEL芯片的激光参数测量方法及系统

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VCSEL芯片的激光参数测量方法及系统
申请号:CN202410874591
申请日期:2024-07-02
公开号:CN118628472B
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种VCSEL芯片的激光参数测量方法及系统,用于计算能量比例达到预设的目标比例阈值的最小比例时所对应的目标半径;确定目标半径的具体方法为:构建趋势变化函数,所述趋势变化函数包括圆形区域的半径和对应的能量比例的关系;基于预设的目标比例阈值,使用所述趋势变化函数进行半径计算,获得预测半径;获取所述预测半径所对应的能量比例;当所述预测半径所对应的能量比例不满足预设的完成条件时,根据所述能量比例和所述目标比例阈值的偏差更新所述预测半径,直至所得预测半径所对应的能量比例满足完成条件,将所述预测半径作为目标半径。本发明能够有效减少计算用时,提高测量效率。
技术关键词
VCSEL芯片 参数测量方法 光斑 激光 图像 偏差 背景噪声 背景图 像素 关系 尺寸 圆心 线性