基于自定标算法的阵列透镜一致性快速检测方法

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基于自定标算法的阵列透镜一致性快速检测方法
申请号:CN202410922354
申请日期:2024-07-10
公开号:CN118913628A
公开日期:2024-11-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于自定标算法的阵列透镜一致性快速检测方法,涉及光学器件检测领域,通过数字相机接收来自待检测阵列透镜的阵列焦斑数据,之后基于自定标算法对阵列焦斑质心数据分组并重新编码,排除边缘网格完成初步定标,再通过微调数字相机靶面水平角度或俯仰角度引入质心偏移量,控制偏移量在相机靶面变化小于单个透镜周期,最后结合定标编码网格计算质心偏移量,再通过基准对比完成阵列透镜一致性快速判断。本发明可以实现阵列透镜一致性的快速检测,无需引入外部调制器件,适用于未知焦距、阵列周期等参数的折射或衍射微透镜阵列的快速检测判断。
技术关键词
定标算法 快速检测方法 矩阵 数字相机 质心偏移量 坐标 编码 索引 基准 序列 图像 二值化阈值 数据 像素 微透镜阵列 网格 梯度算法