电子显微镜自动对焦跟随处理方法、装置及其应用

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电子显微镜自动对焦跟随处理方法、装置及其应用
申请号:CN202411031519
申请日期:2024-07-30
公开号:CN118859504A
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本申请提出了电子显微镜自动对焦跟随处理方法、装置及其应用,包括对焦点选取:初始样品拍照,获取整张样品图像,将样品图像转换为灰度图,并识别样本区域,在样本区域内选择多个对焦点;粗对焦:选取一个中心附近的点作为粗对焦点,并从预设的极限位置开始逐步调整焦距直至找到清晰图像;细对焦:在粗对焦成功的基础上进一步微调对焦,以获得更清晰的图像;拟合平面:使用细对焦成功的对焦点的三维坐标拟合出一个平面,该平面上的点代表清晰对焦的位置;跟随模式:启动跟随模式,实时跟踪样本的移动;当样本的横坐标和/或纵坐标发生变化后,调整电子显微镜的z轴使其调整到相应位置以保持对焦清晰。可帮助用户快速定位到清晰的位置。
技术关键词
电子显微镜 焦点 样本 PID算法 图像 可读存储介质 模式 坐标 代表 模块 电子装置 基础 存储器 处理器