一种整体式箱底在机测量点位和路径自动规划方法
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一种整体式箱底在机测量点位和路径自动规划方法
申请号:
CN202411032602
申请日期:
2024-07-30
公开号:
CN119002401A
公开日期:
2024-11-22
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及一种整体式箱底在机测量点位和路径自动规划方法,首先,根据用户输入确定零件在机测量的需求,形成需求模型;然后,在采样空间内生成不干涉或不完全干涉的纬向采样线;其次,在纬向采样线上生成径向采样点;最后,支持点测式、线扫式两种模式的测量路径生成。本发明有效地解决了含箱底测量路径规划自动化程度低、凸台区域测量调整繁琐问题,显著减轻工艺人员测量程序的编程负担,提高三维模型在制造端的利用率,避免产品加工精度不符的质量问题。
技术关键词
自动规划方法
采样点
分支
自动规划系统
母线
分层
内型面
密度
位置更新
定义
模式
三维模型
关系
编程
特征轮廓
测量点
零件
间距
模块
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