基于结构解析的散射中心参数提取方法及系统
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基于结构解析的散射中心参数提取方法及系统
申请号:
CN202411108125
申请日期:
2024-08-13
公开号:
CN119152534A
公开日期:
2024-12-17
类型:
发明专利
摘要
本发明提供了一种基于结构解析的散射中心参数提取方法及系统。通过结构解析将目标分解为结构单元集合,利用卷积神经网络提取曲面结构单元的几何特征参数,基于几何特征参数将结构单元映射为散射中心参数,从而提取等效散射中心点。通过结构解析将目标转化为若干结构单元从而大大降低处理复杂度,提高散射中心建模效率。实现了将从结构单元到散射中心参数端到端的映射,散射中心对应的物理含义清晰明确。通过散射中心点可以对目标射频场景进行重构,可用于对雷达系统的探测识别性能进行仿真验证。
技术关键词
结构单元
参数提取方法
曲面
构建卷积神经网络
卷积神经网络模型
参数提取系统
多边形
误差函数
生成训练样本
网格
平铺
卷积神经网络提取
模块
像素点
非线性
坐标
级联