车载芯片的测试系统及测试方法

本发明公开了一种车载芯片的测试系统及测试方法，属于芯片测试技术领域，车载芯片的测试系统包括：芯片插槽模块、主控模块、负载模块和供电模块，芯片插槽模块供车载芯片插接；主控模块与芯片插槽模块连接，被配置为对车载芯片发送测试信号，使车载芯片根据测试信号发送控制信号；负载模块与芯片插槽模块连接，被配置为接收控制信号并向车载芯片发送第一反馈信号，车载芯片根据第一反馈信号向主控模块发送第二反馈信号，主控模块根据第二反馈信号输出测试结果；供电模块与芯片插槽模块、主控模块和负载模块连接，被配置为对芯片插槽模块、主控模块和负载模块供电，有利于缩短测试周期，提高测试效率，确保实际应用中的安全性。