一种芯片拥塞预测方法

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一种芯片拥塞预测方法
申请号:CN202411493069
申请日期:2024-10-24
公开号:CN119443028A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片拥塞预测方法,包括:构建单元操作集,基于单元操作集构建搜索空间,使用梯度下降法选取神经网络架构并进行迭代更新,获得最优神经网络架构;获取目标领域和源领域的芯片布局布线设计图集并选取预设数量的图像,获得目标训练集和源训练图集,通过选取的图像训练循环生成对抗网络;基于源领域的芯片布局布线设计图集与循环生成对抗网络获得辅助数据集;基于目标训练集与辅助训练集对最优神经网络结构进行训练,获得最终芯片拥塞预测模型,基于最终芯片拥塞预测模型进行芯片拥塞预测。本发明克服了使用机器学习模型进行拥塞预测时需要大量专业知识和巨大工程消耗的问题,大幅度减少跨芯片拥塞预测需要的数据样本数量。
技术关键词
拥塞预测方法 循环生成对抗网络 布局布线设计 芯片 梯度下降法 神经网络结构 优化神经网络架构 梯度下降算法 数据 机器学习模型 参数 策略 图像 样本