一种纸币缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备
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一种纸币缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备
申请号:
CN202411739870
申请日期:
2024-11-29
公开号:
CN119649124A
公开日期:
2025-03-18
类型:
发明专利
摘要
本发明提供的一种纸币缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备,应用于图像检测识别技术领域。本发明通过构建带有多种缺陷类型标签的纸币缺陷图片训练数据集,并使用K‑means算法聚类生成适合检测的先验框,提升了模型基础能力。在YOLOv4中增加卷积层数和引入CBAM‑PANet结构,增强了复杂特征识别与注意力机制,显著提高了检测精确度和效率,同时增强了对不同纸币缺陷的泛化能力,实现了高效准确的缺陷类型判断。
技术关键词
缺陷检测方法
图片
检测纸币
缺陷检测单元
全局平均池化
模块
数据
网络结构
检测识别技术
通道注意力机制
电子设备
算法
缺陷检测装置
聚类
处理器
多层感知器
标签