一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法

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一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法
申请号:CN202411911128
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119830376B
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法,副反射面安装之前在地面采集副反射面侧边离散点、曲面离散点、测量基准点,通过CAD面型转换方法在全局坐标系O‑XYZ下与理论数学模型进行匹配、迭代计算,获取副反射面四角固定的测量基准点在全局坐标系O‑XYZ下的坐标值作为理论坐标值。副反射面完成安装后,在全局坐标系O‑XYZ下测量副反射面四角测量基准点实测坐标值,并与其理论坐标值进行比对,实测坐标值与理论坐标值的偏差值即为副反射面三维空间绝对位置和姿态的测量调整精度。经过多次测量调整副反射面三维空间绝对位置和姿态精度优于1㎜,在双焦点反射面多波束反射面天线系统接收相应卫星电磁波电平值时满足指标要求。
技术关键词
数学模型 曲面 坐标系 理论 多波束反射面天线 软件 激光跟踪仪 三维扫描仪 转换方法 天线系统 矩阵 无破坏 工业设备 正面 三坐标 对象 地面 精度