一种芯片测试固定机构

本实用新型公开了一种芯片测试固定机构，涉及失效分析测试机构技术领域。包括承载板，所述承载板的顶部设置有升降组件，所述升降组件包括支撑板，所述支撑板和承载板的顶部相固定，所述支撑板的顶部中间转动安装有固定圈。本实用新型通过将芯片放置到放置板的顶部，转动轴杆进行下降，带动联动头进行下降，联动头在下降到底部时，会和固定圈顶部两端固定安装的卡头相接触，带动固定圈进行转动，带动联动杆和固定圈顶部相连接的一侧，向固定圈两端转动，联动杆在固定圈的两端转动时，会拉动滑板，向支撑板的中间滑动，对放置在放置板上进行的芯片两侧进行固定，这样可以对芯片进行固定，防止在扫描时芯片移动。