基于AR眼镜显示的磁粉探伤缺陷识别装置

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基于AR眼镜显示的磁粉探伤缺陷识别装置
申请号:CN202421726206
申请日期:2024-07-19
公开号:CN223022024U
公开日期:2025-06-24
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型所述的基于AR眼镜显示的磁粉探伤缺陷识别装置,属于特种检测技术领域,包括磁轭(1)和AR眼镜(12),其特征在于,所述磁轭(1)的外部设有磁轭壳体(2),所述磁轭壳体(2)的一侧连接有电池壳体(3);所述磁轭壳体(2)的内部设有WIFI板(4),底部设有摄像头(5);所述电池壳体(3)内部设有驱动板(6),所述驱动板(6)分别与WIFI板(4)和摄像头(5)电气连接;所述WIFI板(4)通过内部的WIFI核心模块与AR眼镜(12)无线通信,在不影响真实场景的观察下,本实用新型有效避免了探伤过程中需要其他手持辅助显示设备的问题以及依据人工识别所涉及的操作限制问题。
技术关键词
磁轭壳体 磁粉探伤 AR眼镜 ESP8266芯片 识别装置 驱动板 电池壳体 降压电源模块 特种检测技术 辅助显示设备 电气 照明灯 按键 显示屏 手握 核心