用于X模极化微波反射计的密度剖面反演方法、装置、设备、存储介质和程序产品
申请号:CN202510024026
申请日期:2025-01-07
公开号:CN120012037A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种用于X模极化微波反射计的密度剖面反演方法、装置、设备、介质和程序产品,涉及等离子体诊断技术领域。采用本方法能够提高密度剖面反演的效率和精度。方法包括:获取由X模极化微波反射计采集的时域信号,将时域信号输入深度神经网络模型,由预处理模块对时域信号进行标准化处理,得到标准化时域信号;由输入端编码模块对标准化时域信号进行位置信息嵌入和位置编码,得到编码后的时域信号;由特征提取模块对编码后的时域信号进行特征提取和特征增强,得到增强的目标特征;由特征识别模块对目标特征进行识别和定位,得到识别定位结果;由数据输出模块根据识别定位结果,生成X模极化微波反射计中等离子体的密度剖面分布数据。
技术关键词
深度神经网络模型
特征提取模块
特征识别模块
数据输出模块
密度
反演方法
微波
等离子体诊断技术
编码模块
反演装置
信号处理模块
训练集
计算机程序产品
处理器
输入端
计算机设备
可读存储介质