一种以太网PHY芯片测试装置及方法

本申请属于集成电路测试领域，具体公开了一种以太网PHY芯片测试装置，包括：自动测试模块，与待测PHY芯片连接或与所述标准PHY芯片连接，用于生成驱动信号并执行信号对比分析；标准PHY芯片，用于与待测PHY芯片连接并进行信号交互，生成测试信号并将所述测试信号返回至所述自动测试模块；控制器，与所述待测PHY芯片、标准PHY芯片连接并建立通信，用于控制驱动信号在待测PHY芯片与标准PHY芯片之间的传输路径，并切换通信协议以实现多通信协议测试。通过本申请，可提高芯片测试效率。