一种用于测量大细长比微结构残余应力的方法

本发明公开了一种用于测量大细长比微结构残余应力的方法，包括：采用聚焦离子束技术在样品表面刻蚀出矩形光栅，并同步标记X射线检测点；集成白光干涉仪沿螺旋轨迹扫描路径实时生成曲率变化曲线，并应用经验模态分解算法处理数据；利用六轴机器人控制系统补偿标记点位置偏移，调整X射线入射角适应翘曲表面几何并进行多角度应力检测；通过光栅‑X射线联合标定建立映射关系，利用插值算法生成二维应力分布图；根据光栅曲率稳定性和X射线衍射峰信噪比动态分配权重，输出三维残余应力云图，并标注高风险区域，有效提升对复杂形状材料的残余应力分析能力，提供了更加准确、全面的应力分布信息，有助于识别和预防潜在的材料失效问题。