低相干成像质量评价方法、装置及电子设备

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低相干成像质量评价方法、装置及电子设备
申请号:CN202510354536
申请日期:2025-03-25
公开号:CN119887754B
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种低相干成像质量评价方法、装置及电子设备,涉及激光焊接监测技术领域。该方法包括:获取激光焊接过程中匙孔相关的点云数据,并基于点云数据得到匙孔的外围点云投影图;多次执行匙孔区域拟合过程,以基于每次拟合过程得到的拟合参数确定匙孔区域;其中,每次拟合过程中,基于外围点云投影图构建坐标系并按照预设尺度划分网格,并基于各网格的网格参数确定匙孔区域的拟合参数;不同拟合过程中的预设尺度不同;基于匙孔区域内的点云数据和匙孔区域的区域面积确定成像质量评价结果。由此,以实现对通过光学低相干成像的方式采集匙深信息的准确度进行评价,为激光焊接过程中的匙深在线监测提供先决条件。
技术关键词
网格 评价方法 点云 成像 筛选算法 数据 参数 激光发射头 焊接监测技术 坐标系 电子设备 评价装置 指标 模块 存储器 处理器 在线