一种基于超声波的涂层测厚方法及系统

本发明公开了一种基于超声波的涂层测厚方法及系统，包括通过识别待测工件结构，获取表面曲率数据，在曲率变化大的区域生成初始涂层厚度检测点，接着用超声波探头对这些点测距，对回波信号进行时域‑频域联合分析，得到包含涂层厚度值、置信度及邻域关联参数的厚度矩阵，依据厚度矩阵，借助聚类算法动态更新检测点位置，如此循环操作，直至满足空间覆盖率差异或检测点数量的终止条件。本发明通过基于工件结构确定检测点、超声波测量与回波数据分析、动态更新检测点等操作，有效提高涂层厚度测量的准确性与效率，尤其适用于复杂工件的涂层检测。