一种IC芯片烧录检测装置及检测方法

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一种IC芯片烧录检测装置及检测方法
申请号:CN202510448683
申请日期:2025-04-10
公开号:CN120044378A
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种IC芯片烧录检测装置及检测方法,涉及芯片烧录检测设备领域,该检测装置包括供料机构和传动箱,所述供料机构顶部架设有送料机构,所述供料机构包括供料辊B以及与传动箱底部输出轴连接的供料辊A,供料辊A和供料辊B上传动套装有供料带,所述送料机构包括送料辊B以及与传动箱顶部输出轴连接的送料辊A,送料辊A和送料辊B上传动套装有送料带。本发明克服了现有技术的不足,创新的机械结构设计和自动化控制,实现了IC芯片的高效、精准检测和分类,能够有效解决传统装置效率低、精度差、人工干预多等问题,具有较高的社会使用价值和应用前景。
技术关键词
烧录检测装置 IC芯片 夹持机构 检测座 送料机构 视觉检测器 供料机构 传动箱 表面损伤检测 检测探头 送料带 夹板 检测平台 滑动套装 复位机构 同步齿轮 通孔
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