摘要
本发明公开了一种厚膜电阻网络自动化测试方法，属于厚膜电阻网络测试领域，包括以下步骤：S1、根据待测产品的引脚数和封装类型，通过动态路径规划算法生成测试序列；S2、控制继电器阵列分时切换测试通道，对厚膜电阻网络的电阻值及相邻引脚阻抗值进行复合测量；S3、通过多通道并行测试策略优化资源分配，并采用同步插值算法对齐并行测试数据；S4、基于环境参数和自校准模型修正测量值，并通过异常预警模块实时反馈测试结果；S5、将测试数据存储至结构化表格，并生成测试报告。通过动态路径规划算法生成测试序列，能够依据待测产品的引脚数和封装类型制定合适的测试顺序，提升测试效率，一次测试可获取多项关键参数，减少测试次数和时间。
