射频芯片测试方法

本申请公开了射频芯片测试方法，涉及无线通信领域，其方法包括：控制终端接收来自射频芯片的输出信号及DDS信号发生器产生的扫频激励信号，并在DDS信号发生器的输出端连接低通滤波器以及偏置调节器，对扫频激励信号进行直流偏置调节；对输出信号进行动态衰减及阻抗匹配；设置并联参考电阻，对并联参考电阻施加输出电压，计算参考电流；根据参考电流进行增益校准，并根据实测增益与理论增益，触发微调信号至偏置调节器进行微调；执行多频点循环测试，并为高频段信号与低频段信号分别设置步长与测试持续时间，同时设置终止条件，该终止条件包括频点增益偏差连续超限以及频点测试持续时间超限。本申请可以实现射频芯片测试过程中的全频段要求。