基于深度学习的微观结构特征自动识别与分析方法及系统
申请号:CN202510637535
申请日期:2025-05-19
公开号:CN120451511A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于深度学习的微观结构特征自动识别与分析方法及系统,涉及材料科学及计算机视觉技术,方法包括:通过小波变换与混合滤波进行图像去噪,结合Retinex理论与分块直方图均衡化实现图像增强;构建标注数据集后,采用迁移学习和数据增强策略训练UNet语义分割网络;模型可自动识别定位晶粒、裂纹等微观特征,并输出带缺陷标注的可视化结果及统计图表。本发明实现了显微图像分析的全流程自动化,显著提升了检测效率和精度,适用于金属、陶瓷等多种材料的质量检测与科学研究。
技术关键词
微观结构特征
Retinex理论
分析方法
直方图均衡化方法
局部邻域窗口
加权中值滤波
深度学习模型
语义分割网络
决策方法
缺陷类别
对比度
图像增强单元
多尺度
像素
计算机视觉技术
策略