一种红外探测器的性能测试方法及系统
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一种红外探测器的性能测试方法及系统
申请号:
CN202510637703
申请日期:
2025-05-19
公开号:
CN120176859B
公开日期:
2025-08-22
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及性能测试领域,尤其涉及一种红外探测器的性能测试方法及系统,方法包括:获取红外探测器关于响应电压与测试温度的多条变化曲线;利用emd算法将变化曲线进行分解得到多个imf分量,计算每个imf分量的最优叠加权重,利用最优叠加权重对各imf分量进行叠加得到去噪后的变化曲线,对去噪后的变化曲线进行异常数据点识别以实现对红外探测器性能的测试。本发明在对各imf分量进行叠加的过程中进行去噪的同时,能够尽可能多的保留有效信息。
技术关键词
红外探测器
性能测试方法
曲线
异常数据点
皮尔逊相关系数
计算机程序指令
DBSCAN算法
速率
群体智能算法
权重计算方法
表达式
性能测试系统
信息熵
重构
坐标系
电压
聚类