基于相位重构的Micro-LED阵列测量方法及系统

本发明提供一种基于相位重构的Micro‑LED阵列测量方法及系统，涉及微发光二极管显示技术领域，该方法包括首先获取待测Micro‑LED阵列的焦面图像及多个离焦面图像，接着利用相位重构模型对这些图像进行相位重构，获得出光面的光场信息，再基于光场信息构建幅频分布，得到不同出光角度的光强分布评估图，最后基于焦面图像与光强分布评估图，得出包括出光角度、发光强度占比及光强均匀性等测量信息。本发明能够快速、准确、高效地检测Micro‑LED阵列的出光角度、发光强度及光强均匀性，适用于大规模批量检测，提高了测量的精确性和可靠性，且可广泛应用于其他发光半导体材料的测量。