一种GaAs三结电池的质子和电子综合辐照损伤模型构建方法及系统
申请号:CN202510746361
申请日期:2025-06-05
公开号:CN120877924A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种GaAs三结电池的质子和电子综合辐照损伤模型构建方法及系统。该模型通过严谨的单一及综合辐照试验获取数据,并以此为基础对模型进行反复验证与迭代优化,直至得到精准度较高的模型。利用此精确模型对其他辐照注量条件下的损伤情况进行预测,从而准确构建出GaAs三结电池在质子、电子综合辐照下的损伤模型。通过对电池电学性能以及内部参数仿真分析,能够更为精准地把握电池在全电推轨道运行过程中所承受的辐照损伤状况,为深入探究综合辐照损伤规律及机理研究提供坚实的理论依据。此外,综合辐照仿真模型可以预测电池在全电推轨道上的性能退化趋势,减少地面评价试验的时间,可以极大降低地面模拟试验的经济成本。
技术关键词
模型构建方法
仿真模型
电池内部参数
计算机
数据验证
仿真分析
电子系统
处理器
可读存储介质
方程
校准
分层
存储器
曲线
连续性
轨道
电极