处理器测试方法、设备、介质和程序产品

本发明提供了一种处理器测试方法、设备、介质和程序产品，可以应用于计算机技术领域。该处理器测试方法包括：响应于针对处理器的测试指令，生成用于模拟处理器负载波动的多个负载状态；针对各负载状态，将获取的处理器的性能数据和负载状态输入参数配置模型，输出与负载状态适配的测试参数；根据测试参数的任务处理类型，将基于测试参数构建的测试用例分发至处理器中相匹配的逻辑分区执行；通过分析执行过程中产生的测试数据，确定处理器在负载状态下的测试结果。