一种存储设备测试方法及电子设备

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一种存储设备测试方法及电子设备
申请号:CN202511196476
申请日期:2025-08-26
公开号:CN120704968B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种存储设备测试方法及电子设备,涉及计算机领域,当监听到新的工程变更通知事件,获取相应的目标事件文档;对目标事件文档进行预设解析操作,得到结构化数据;预设解析操作包括基于正则匹配的第一解析操作及基于自然语言处理的实体识别模型的第二解析操作;建立工程变更通知事件与诊断资源的动态映射关系表,并进行完整性验证;若完整性验证通过,将诊断资源下载至存储设备的诊断测试系统,判断存储设备的当前设备固件版本与所需设备固件版本间是否存在版本冲突,以便诊断测试系统在不存在版本冲突时,基于诊断资源对存储设备进行诊断测试,避免出现由于维护不及时导致工厂化诊断测试停线的情况,提高存储维护的效率和准确性。
技术关键词
存储设备测试方法 诊断测试系统 实体识别模型 产品生命周期管理系统 固件 资源 映射关系表 自然语言 通知 判断存储设备 密码散列函数 队列 应用程序编程接口 客户端 数据 消息 控制器接口 电子设备 存储计算机程序