大芯片内存系统压力测试方法、装置、设备、介质及产品

本发明公开了一种大芯片内存系统压力测试方法、装置、设备、介质及产品，该方法包括：为AI大芯片的各引擎分别配置当前迭代轮次下的数据搬运任务；引擎同步后，控制各引擎延迟空转后启动数据搬运任务，并在当前迭代轮次为首轮迭代时，清0各硬件计数器；开始执行数据搬运任务后，监控各硬件计数器的计数值；在确定各计数值与目标负载周期相匹配，清0各硬件计数器后开启新的迭代轮次，返回执行为AI大芯片的各引擎分别配置数据搬运任务的操作，直至AI大芯片完成目标负载周期的目标占空比下的周期性压力测试，本发明实施例的技术方案能够实现AI大芯片多引擎系统的精准同步控制和周期性负载测试，显著提升了对大芯片关键性能指标的验证效率。