一种基于图像分析的高分子材料检验方法及系统

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一种基于图像分析的高分子材料检验方法及系统
申请号:CN202511213136
申请日期:2025-08-28
公开号:CN120741507B
公开日期:2025-12-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及材料检验技术领域,一种基于图像分析的高分子材料检验方法及系统,包括:对高分子材料进行图像采集,得到高分子材料图像,进行预处理操作,得到预处理材料图像,在预处理材料图像中识别出缺陷区域集,对缺陷区域进行特征提取,得到缺陷区域参数,将缺陷区域参数与缺陷阈值进行比对,得到缺陷偏差值,判定缺陷区域的缺陷状况,若均为可接受缺陷,则将高分子材料确认为初步合格材料,进行加速老化测试,得到老化测试材料,对老化测试材料进行图像检测,得到检测缺陷区域,将缺陷区域与检测缺陷区域进行比对,得到缺陷区域扩展值,获取材料检测结果。本发明可以解决当前在对高分子材料的检验过程中检验结果精确度低的问题。
技术关键词
高分子材料 检测缺陷区域 图像分析 检验方法 加速老化测试 图像处理单元 像素点 图像采集单元 容器 偏差 材料检验技术 边缘保留滤波 通道 参数 特征值 调节设备 滤波算法 光照