一种芯片测试设备及测试方法

本发明提供了一种芯片测试设备及测试方法，涉及芯片测试技术领域。本发明中第一测试载台上放置有至少一个被测芯片，第一测试载台设置成受控地沿芯片测试设备的前后方向移动。第二测试载台设置在测试机远离第一测试载台的一侧，且其上放置有至少一个被测芯片，第二测试载台设置成受控地沿前后方向移动。第一测试载台和第二测试载台设置成交替地移动至测试机内，使得测试机交替地对第一测试载台和第二测试载台上的被测芯片进行功能性测试。上述技术方案采用第一测试载台和第二测试载台交替进入测试机的方式，减少了上料等待时间，测试机交替地对第一测试载台和第二测试载台上的被测芯片进行测试，一直处于测试状态，提高了芯片的测试效率。