一种绝缘子表面电荷密度确定方法、装置、电子设备及存储介质

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一种绝缘子表面电荷密度确定方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202511245744
申请日期:2025-09-02
公开号:CN121027637A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种绝缘子表面电荷密度确定方法、装置、电子设备及存储介质,属于输变电设备检测技术领域,所述方法包括:获取绝缘子各网格单元的电位测量值和仿真模型;针对仿真绝缘子中的每一网格单元,计算向网格单元施加预设的电荷激励后,各网格单元产生的电位分布,生成转移矩阵列向量;根据转移矩阵列向量,生成电位‑电荷转移矩阵;根据电位测量值,对电位‑电荷转移矩阵进行投影降维处理,生成低维线性方程组,进而构建混合正则化求解模型;对混合正则化求解模型进行求解,生成电荷密度解;对电荷密度解进行投影降维逆处理,生成最终的绝缘子表面电荷密度。通过实施本发明,能够解决现有技术中因过度平滑而丢失关键诊断细节的问题。
技术关键词
绝缘子表面电荷 矩阵 网格 密度 参数 仿真模型 输变电设备检测技术 广义 数据获取模块 电子设备 处理单元 处理器 存储器 计算机