一种芯片低功耗设计仿真验证方法、装置、介质及设备
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一种芯片低功耗设计仿真验证方法、装置、介质及设备
申请号:
CN202511245790
申请日期:
2025-09-02
公开号:
CN121029517A
公开日期:
2025-11-28
类型:
发明专利
摘要
本发明提出一种芯片低功耗设计仿真验证方法、装置、介质及设备,将芯片功能设计代码和其对应的芯片低功耗设计代码输入仿真模型进行,以得到仿真芯片;获取仿真模型输出隔离值信息报告;由脚本文件自动从隔离值信息报告中提取目标对象的断电特征信息,断电特征信息会更加全面完善,降低出现遗漏的可能性,并节约人力成本。通过对仿真信号进行监测,准确定位隔离信号生效时间点,保障相关仿真值采样结果和验证结论的准确性,可以同时兼顾效率和准确性。
技术关键词
仿真验证方法
仿真芯片
低功耗
额定值
对象
仿真模型
处理单元
有效值
验证装置
时钟
报告
逻辑
周期
仿真信号
脚本
上电复位
标识
处理器