一种高安全性芯片封装复合薄膜及其应用

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一种高安全性芯片封装复合薄膜及其应用
申请号:CN202511247745
申请日期:2025-09-03
公开号:CN120767258A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种高安全性芯片封装复合薄膜及其应用,复合薄膜包括:PUF熵源层,包括掺杂介电层以及设在所述掺杂介电层上、下表面的电容阵列层,用于生成芯片的唯一密钥,并检测薄膜形态变化及侵入式攻击;绝缘层,包裹在所述PUF熵源层上,用于隔离所述电容阵列层并维持电容检测稳定性;金属屏蔽层,包裹在所述绝缘层上,用于屏蔽电磁信号,阻挡电磁探测。本发明应用于信息安全、芯片加密领域,采用多层复合结构,可在芯片表面形成复杂的高介电材料+屏蔽层+物理随机纹理层结构,实现芯片的电磁信号屏蔽、光学探测屏蔽和物理防护,使得攻击者难以通过物理解析或探测等手段获取信息,能够显著提升芯片的抗物理攻击能力。
技术关键词
封装薄膜 复合薄膜 电容阵列 芯片封装结构 模块板卡 模块封装结构 屏蔽电磁信号 密码芯片 模块外壳 PI材料 金属屏蔽层 电磁信号屏蔽 介电层 多层复合结构 基底 包裹