物体表面高度构建方法、装置、电子设备和存储介质

本申请公开了一种物体表面高度构建方法、装置、电子设备和存储介质，属于工业检测技术领域。方法包括：基于目标物体的表面图像，获取所述目标物体的表面散度矩阵；基于傅里叶正变换算法，将所述表面散度矩阵映射至频域空间，获取第一高度矩阵；通过傅里叶逆变换算法，基于所述第一高度矩阵，构建目标高度矩阵；所述目标高度矩阵包括所述目标物体的表面高度信息。本申请公开的物体表面高度构建方法，以解决工业检测技术领域相关技术无法具体分析出微小缺陷具体高度等缺陷信息的问题。