一种便捷测试SD响应时间的电路及方法

申请号：CN202511280793

申请日期：2025-09-09

公开号：CN120811483A

公开日期：2025-10-17

类型：发明专利

摘要

本发明涉及光通信技术领域，具体地说，涉及一种便捷测试SD响应时间的电路及方法；在测试SD响应时间时直接借助OLT芯片的采样保持功能，在实际量产测试时BEN信号和RX IN信号的延时校准步骤只需要进行一次后记录下来就固定，更低成本快捷地完成SD响应时间测试。

技术关键词

调节单元电阻信号三极管输入端 OLT芯片电路电容校准电流源光通信技术电感输出端低成本开关电压