一种基于动态QoS调控的SoC性能验证方法、装置、介质及设备

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一种基于动态QoS调控的SoC性能验证方法、装置、介质及设备
申请号:CN202511311758
申请日期:2025-09-15
公开号:CN120805842B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本申请属于集成电路设计验证技术领域,具体揭示了一种基于动态QoS调控的SoC性能验证方法、装置、介质及设备,包括:对芯片架构进行解析,获取芯片资源映射表;基于所述芯片资源映射表构建自动化验证环境并进行测试;根据目标应用场景并基于所述芯片资源映射表进行场景参数配置;在测试好的自动化验证环境下,基于配置好的场景参数进行动态QoS调控,以实现对SoC的性能验证。本申请能够提升SoC性能验证的准确性、效率及结果与实际应用场景的一致性。
技术关键词
场景 性能验证方法 动态 芯片架构 集成电路设计验证技术 资源 延迟偏差 性能验证装置 参数 序列 决策 脚本 电子设备 处理器 模块 存储器 计算机 定义