对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质
申请号:CN202511324674
申请日期:2025-09-17
公开号:CN120822473B
公开日期:2025-12-23
类型:发明专利
摘要
本申请涉及计算机技术领域并提供一种对寄存器传输级代码进行检测的方法、电子设备及介质。方法包括:根据代码成熟度指标,确定第一寄存器传输级代码的代码成熟度;基于多个芯片开发阶段各自对应的代码成熟度,确定第一寄存器传输级代码相匹配的第一芯片开发阶段;当第一芯片开发阶段是验收阶段时,通过综合验证工具,按照综合验证工具自带的质量检测项目,进行前端设计流程的质量检测;当第一芯片开发阶段不是验收阶段时,按照配置环境输入来配置综合验证工具得到已配置综合验证工具,然后,通过已配置综合验证工具,按照快速质量检测项目集合所包括的质量检测项目,进行前端设计流程的质量检测。如此,确保正确性以及提高迭代效率。
技术关键词
项目 芯片 指标 阶段 电子设备 模块 代码覆盖率 计算机设备 定义 可读存储介质 处理器 锁存器 时钟 列表 存储器 逻辑 端口 信号