缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品
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缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品
申请号:
CN202511336872
申请日期:
2025-09-18
公开号:
CN120823218B
公开日期:
2025-11-21
类型:
发明专利
摘要
本申请适用于图像处理技术领域,提供了缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品,包括:在通过缺陷检测模型对检测图像进行初步缺陷检测,得到初步检测结果,根据初步检测结果中的像素值和作为参考的像素值之差生成像素对比图,进一步减少了第一缺陷区域中的噪声数据,以此对第一缺陷区域进行进一步缺陷检测,使得最终得到的缺陷检测结果的准确度更高。
技术关键词
缺陷检测方法
像素点
样本
神经网络模型
缺陷检测装置
对比度
计算机设备
长宽比
可读存储介质
图像处理技术
计算机程序产品
处理器
噪声数据
模块
参数
存储器
标签