一种光开关测试组件、系统及测试方法

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
一种光开关测试组件、系统及测试方法
申请号:CN202511367566
申请日期:2025-09-23
公开号:CN120993184A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明属于光开关技术领域,尤其涉及一种光开关测试组件、系统及测试方法,其包括承载板以及固定在承载板上的光开关芯片;所述光开关芯片输入端和输出端分别耦合有输入光纤阵列和输出光纤阵列;还包括两块分别与光芯片连接的PCB以及两个连接端子,所述两个连接端子分别利用连接部与两块PCB连接;所述连接端子具有与测试板连接的接口I。本发明在光开关测试组件设置了连接端子作为接口。所述接口为标准型,从而便于测试板上的接口与其适配。标准型连接端子如排针/插槽、金手指等与测试板接口预定义机械尺寸、引脚定义和电气参数,无需现场焊接或调试,相较于现有与测试板焊接的连接方式,在批量测试中效率大大提高。
技术关键词
光开关芯片 输出光纤阵列 测试组件 测试方法 测试板 检索标签 承载板 开关测试系统 端子 基板 光开关技术 安装槽 接口 排针 检测光 底板