基于串扰仿真的模拟IC同步测试优化方法及系统

本发明公开了一种基于串扰仿真的模拟IC同步测试优化方法及系统。该方法首先获取模拟IC同步测试过程中的位置版图数据及各模拟IC的测试信号数据，结合测试信号确定电磁串扰信息，并据此与位置版图数据构建串扰示意图；利用谱聚类算法对示意图进行聚类，识别同步测试中的串扰路径；基于示意图及串扰路径设计电磁串扰信号隔离屏障，并将其部署于测试环境中，通过构建并注入串扰仿真信号对独立测试的模拟IC进行仿真评估，判断隔离效果；根据评估结果对隔离屏障进行优化，获得优化方案。本方法可有效识别并隔离同步测试过程中的电磁串扰路径，提升模拟IC测试的准确性与可靠性。