一种全波长极限分辨率结构光显微成像方法及相关产品

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一种全波长极限分辨率结构光显微成像方法及相关产品
申请号:CN202511438078
申请日期:2025-10-09
公开号:CN120908985B
公开日期:2025-12-16
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种全波长极限分辨率结构光显微成像方法及相关产品,可应用于光学显微镜技术领域,该方法包括:基于发射光波长确定结构光照明条纹的目标条纹周期;基于空间光调制器调整结构光照明条纹至目标条纹周期,使结构光显微成像系统达到全波长极限分辨率;基于结构光照明条纹,获取目标样本对应的第一频域图像、第二频域图像以及第三频域图像;基于频域图像累乘算法对第一频域图像、第二频域图像以及第三频域图像进行处理,确定目标波矢量;基于目标波矢量对目标样本进行图像重构。如此,通过空间光调制器的调节使系统在任意发射光波长下均保持极限分辨率,进而提供频域图像累乘算法准确求解该条件下的目标波矢量,提高图像重构的准确性。
技术关键词
结构光显微成像 结构光照明 条纹 全波长 图像 表达式 空间光调制器 光波长 分辨率 周期 空间滤波器 光强 光学显微镜技术 样本 可读存储介质 存储计算机程序 算法 重构模块