功率驱动芯片的自动测试系统

本发明公开了功率驱动芯片的自动测试系统，具体涉及自动化测试技术领域，包括动态测试控制模块、多层级并行测试模块、异常功率检测模块和安全验证诊断模块。本发明基于可编程电子负载与数字信号处理器协同工作，验证芯片在不同工况下的动态响应能力，并生成极端负载条件下的异常功率数据，同步采集芯片电参数与热参数，分析异常功率表现与温度关联性，区分断电保护与漏电导致的温升差异，提取、分类异常功率波形从而区分断电保护与漏电事件，并量化环境电荷干扰的影响程度，最后模拟漏电导致的强电荷环境下芯片保护电路的响应有效性，根据采集的修正值校准，从而实现提高系统自动化程度并增强测试鲁棒性。