电路板多通道并行通电测试与微小漏电流检测方法

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电路板多通道并行通电测试与微小漏电流检测方法
申请号:CN202511488079
申请日期:2025-10-17
公开号:CN120949014B
公开日期:2025-12-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电路板测试技术领域,更具体地涉及电路板多通道并行通电测试与微小漏电流检测方法,本发明具体包括以下步骤:S1、待测电路板进入预设工作状态;S2、按设定采样周期同步采集每个测试通道的电流值、温度值及振动值,获取多模态数据;S3、提取多模态特征,并在待测电路板初始通电稳定阶段自动学习每个待测电路板的动态基线;S4、建立加权概率模型计算漏电概率并进行两次判定;S5、根据漏电故障确认结果构建漏电预判模型,基于漏电预判模型优化测试参数并指导维修;S6、将所有测试结果存入数据库,定期对模型内的参数进行迭代优化;本发明有效降低了误判率,提升了维修定位效率,无需频繁人工调整参数,确保方案长期适配生产需求。
技术关键词
微小漏电流 多通道并行 待测电路板 多模态特征 电路板测试技术 训练样本集 偏差 基线 浅层神经网络 历史故障数据 逻辑回归模型 动态 参数 梯度下降法 学习特征 周期 电流值