宇航芯片抗单粒子效应的评估方法、装置及设备

本发明涉及宇航芯片抗单粒子效应的评估方法、装置及设备，通过将评估过程分为前期设计评估、后期摸底评估以及芯片达标评估三个阶段，定量衡量了宇航芯片抗单粒子效应的能力；同时，前期设计评估阶段的提前评估、后期摸底评估阶段的二次检验以及芯片达标评估阶段的综合对比，明确且闭环评估了芯片抗单粒子性能是否达到入轨标准，极大增强了宇航芯片的风险控制，该评估技术具有普适性高且可操作性强的特点，在避免宇航芯片设计风险的同时提升了宇航芯片的可靠性，可推广应用于航空航天领域。