芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品

本申请提供了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品；方法包括：获取目标算子的包括多个芯片接口指令的算子代码，目标算子和基准算子具备相同的计算功能，芯片接口指令用于实现芯片的至少一项硬件操作，组合多个芯片接口指令的硬件操作用于实现计算功能；解析算子代码，得到芯片的机器码文件；获取测试数据，并将测试数据和机器码文件传输至芯片仿真设备，芯片仿真设备用于对测试数据执行机器码文件，得到目标算子针对测试数据的仿真计算结果；从芯片仿真设备获取仿真计算结果，并获取基准算子针对测试数据的基准计算结果；基于仿真计算结果和基准计算结果，生成芯片的测试结果。通过本申请，能够加快芯片测试进度。