可编程电容负载和测试系统

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可编程电容负载和测试系统
申请号:CN202511563335
申请日期:2025-10-29
公开号:CN121027808A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种可编程电容负载和测试系统,涉及电力电子技术领域,所述可编程电容负载包括第一连接端、第二连接端和至少两个并联的电容支路,全部的电容支路并联后的一端作为所述第一连接端,全部的电容支路并联后的另一端作为所述第二连接端,至少两个并联的电容支路具备从高到低排列的一一对应的档位,相邻档位对应的档位电容值之间为预设倍数量关系;每一电容支路包括多个并联设置的具有电容值的子支路,子支路能够被导通或断开,本申请的可编程电容负载可以解决相关技术电容负载结构复杂、电容调节精度较差的问题,实现宽范围、高精度的容值组合,能够适配不同芯片、不同测试环境的带宽测试需求。
技术关键词
电容 支路 档位 接口 待测产品 基板 电力电子技术 接地线 滑动开关 按钮开关 输入端 排针 输出端 信号 芯片 精度 关系