基于IEC61499标准的电路板缺陷识别Transformer网络分布式推理方法
申请号:CN202411106027
申请日期:2024-08-13
公开号:CN118657177B
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及工业互联网领域,提出了一种基于IEC61499标准的电路板缺陷识别Transformer网络分布式推理方法。本发明将Transformer网络中的多头注意力机制作为拆分的关键要素,并在不同的注意力头之间设定了拆分锚点。通过对边缘节点权重的分析计算出模型的拆分点,从而在分布式环境中实现协同计算。与传统的单一机器执行多头注意力计算的方法相比,本发明通过自适应模型拆分和分布式协作,显著减少了在工业环境中应Transformer网络模型所需的推理时间,在不降低识别精度的前提下提升了电路板缺陷识别速度,对提高工业生产的效率产生了显著的正面影响。
技术关键词
分布式推理方法
电路板缺陷
数据完整性校验
数据分发方法
节点
数据接收方法
主机
坐标
多头注意力机制
分布式协作
网络
分布式环境
工业互联网
特征值
锚点
工业生产
时间差
配平