数控机床加工轨迹规划缺陷检测方法、系统、设备及介质

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数控机床加工轨迹规划缺陷检测方法、系统、设备及介质
申请号:CN202411636553
申请日期:2024-11-15
公开号:CN119511951B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
一种数控机床加工轨迹规划缺陷检测方法、系统、设备及介质,涉及数控加工技术领域,检测方法包括收集数控机床轨迹规划缺陷数据,训练获得多模态数控机床轨迹规划缺陷检测大模型;随机规划数控机床加工轨迹,在物理仿真环境中模拟数控机床的实际加工过程;在模拟数控机床的实际加工过程中采集多模态数据,并将数控机床加工轨迹与采集到的多模态数据融合在一起;将融合后的多模态数据输入多模态数控机床轨迹规划缺陷检测大模型进行逐帧检测,识别出数控机床加工轨迹规划缺陷。本发明通过结合传统轨迹规划算法、物理仿真环境和多模态大模型,实现对数控机床加工轨迹规划缺陷的高效、精确检测和优化,自动化程度高,能够有效提高生产效率和产品质量。
技术关键词
数控机床 缺陷检测方法 仿真环境 图像编码器 轨迹生成器 工件点云 Dijkstra算法 激光扫描仪 生成轨迹 轨迹规划算法 多模态数据融合 检测识别模块 物理 缺陷检测系统
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