交互式芯片性能测试方法和系统

本发明提供一种交互式芯片性能测试方法和系统，涉及测试技术领域，所述方法包括：将待测芯片的端口划分为输入端口和输出端口；录入第一运算参数和第一测试程序，向输入端口输入第一测试数据，并检测多个检测位置的温度数据，进而确定散热影响性能评分；录入第二运算参数和第二测试程序，输入第二测试数据，并接收输出电平数据，并检测输出电压数据，进而确定运算性能评分。根据本发明，可测得待测芯片周围多个位置处的温度数据，从而确定待测芯片在运行过程中的散热对周围电子器件的影响，并可通过电压传感器检测待测芯片的输出电平数据可能存在错误，从而确定待测芯片的输出准确性和电压的准确性，便于对芯片的运算和输出性能进行全面测试。