大视场无像差轴向扫描光片荧光显微成像装置及其方法

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大视场无像差轴向扫描光片荧光显微成像装置及其方法
申请号:CN202410780262
申请日期:2024-06-18
公开号:CN118604997A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种大视场无像差轴向扫描光片荧光显微成像装置及其方法。本发明使用高数值孔径的激发物镜实现大数值孔径的光片成像,光片层切能力强分辨率高;通过改变空间光场调控系统的相位全息图,结合以目标光场的强度分布作为反馈机制的反馈式无像差轴向扫描算法计算相位分布,调节激发光经高数值孔径的激发物镜无像差的沿光轴方向移动,实现大视场无像差范围的光片显微成像,同时实现高层切能力高分辨率和大视场范围的光片荧光显微成像;本发明在不移动任何机械和光学元件的情况下,在不引入像差的前提下,完全消除了运动模糊并极大地扩大光片成像范围,进一步拓展了高数值孔径超薄光片显微成像技术的视场范围;应用于光片荧光显微成像领域。
技术关键词
空间光场调控 二维扫描系统 空间光调制器 相位全息图 扫描算法 物镜 荧光显微成像 高数值孔径 二分之一波片 线偏振 光片 空间光调制系统 缩束系统 大视场 矫正系统 准直装置 强度 成像方法 系统控制
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