系统级芯片及其测试方法、电子设备

本申请实施例公开了一种系统级芯片及其测试方法、电子设备。其中，系统级芯片包括：多个知识产权核、测试电路、多个引脚；多个知识产权核与测试电路的输入端连接，多个引脚均与测试电路的输出端连接；测试电路，被配置为在多个知识产权核中选择出目标知识产权核，并将目标知识产权核的多个目标信号传输至多个引脚。